一、三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠(chǎng)家簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。廣泛適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧㈦娋€(xiàn)、電纜等在高低溫快速交變環(huán)境下，確定組件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力

二、三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠(chǎng)家測(cè)試條件：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

• 兩箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測(cè)試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足試驗(yàn)方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

四、技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍：

高溫區(qū)溫度范圍：RT～170℃ 

低溫區(qū)溫度范圍：RT～ -70℃

測(cè)試區(qū)溫度范圍：-55～ 150℃

2、溫度沖擊范圍：

高溫 :  50℃～ 150℃

低溫: -10℃ ～ -55℃

3、控制精度

4、解析精度: 0.1℃                                

5、溫度波動(dòng)度: ±1℃ 

6、分布均勻度:  ≤2.5℃

7、溫度偏差：±1℃